Ανάλυση Μετάλλων

Η ανάλυση μετάλλων είναι ο κλάδος που ασχολείται με τον προσδιορισμό της χημικής σύστασης και των ιδιοτήτων μεταλλικών υλικών. Αποτελεί βασικό εργαλείο στη βιομηχανία, την ανακύκλωση, την εξόρυξη και τον ποιοτικό έλεγχο, εξασφαλίζοντας την ταυτοποίηση κραμάτων, την ανίχνευση ιχνοστοιχείων και τη συμμόρφωση με διεθνή πρότυπα.

Τεχνολογία XRF (X-Ray Fluorescence)

Η φασματοσκοπία φθορισμού ακτίνων Χ (XRF) είναι μια μη καταστροφική τεχνική που μετρά την εκπομπή ακτίνων Χ από την επιφάνεια ενός δείγματος όταν αυτό διεγείρεται με πηγή ακτίνων Χ. Χρησιμοποιείται για γρήγορη και αξιόπιστη στοιχειακή ανάλυση σε στερεά, σκόνες και υγρά, με εφαρμογές από την ανάλυση κραμάτων και πολύτιμων μετάλλων έως τον περιβαλλοντικό έλεγχο και την αρχαιομετρία.

Τεχνολογία OES (Optical Emission Spectroscopy)

Η οπτική φασματοσκοπία εκπομπής (OES) βασίζεται στην εκπομπή φωτός από διεγερμένα άτομα μέσα σε σπινθήρα ή τόξο. Κάθε στοιχείο εκπέμπει χαρακτηριστικές γραμμές στο φάσμα, επιτρέποντας την ταχεία και ακριβή ποσοτική ανάλυση μετάλλων. Είναι ιδανική τεχνική για χυτήρια, βιομηχανίες κατεργασίας μετάλλων και εργαστήρια ποιοτικού ελέγχου, προσφέροντας άμεση πληροφόρηση στη διαδικασία παραγωγής.

Τεχνολογία LIBS (Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)

Η φασματοσκοπία εκπομπής με λέιζερ (LIBS) χρησιμοποιεί ισχυρούς παλμούς laser για να δημιουργήσει μικρο-πλάσμα στην επιφάνεια του δείγματος. Το φως που εκπέμπεται αναλύεται φασματοσκοπικά, αποκαλύπτοντας τη στοιχειακή του σύσταση. Η τεχνική LIBS είναι ιδιαίτερα γρήγορη (αποτελέσματα σε 1 δευτερόλεπτο), φορητή και κατάλληλη για επιτόπια ανάλυση, με εφαρμογές στη μεταλλουργία, τα πετροχημικά, την ανακύκλωση και την εξόρυξη.

Περίθλαση Ακτίνων X (X-Ray Diffraction- XRD)

Η Περίθλαση Ακτίνων Χ (XRD) είναι μια μη καταστροφική αναλυτική τεχνική που χρησιμοποιείται για τη μελέτη και τον προσδιορισμό της δομής κρυσταλλικών υλικών, όπως σκόνες, στερεά, λεπτά υμένια και υγρά. Η μέθοδος βασίζεται στην αλληλεπίδραση μιας δέσμης ακτίνων Χ με τα ατομικά επίπεδα ενός κρυστάλλου. Όταν οι ακτίνες Χ προσπίπτουν στο υλικό, δημιουργείται ένα χαρακτηριστικό διάγραμμα περίθλασης, σύμφωνα με τον νόμο του Bragg’s Law. Το διάγραμμα αυτό λειτουργεί σαν «δακτυλικό αποτύπωμα» του υλικού, επιτρέποντας την αναγνώριση της σύστασης και της κρυσταλλικής δομής του.