Διαθέτουμε μεγάλη γκάμα αναλωσίμων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας για κάθε ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης. Ειδικότερα διαθέτουμε συστήματα συγκράτησης για τους θαλάμους ηλεκτρονικών μικροσκοπίων SEM (SEM stubs), κατάλληλους προσαρμογείς (SEM stub adapters), κατάλληλους προσαρμογείς για τράπεζες ηλεκτρονικών μικροσκοπίων (SEM Stub Adapters), συγκρατητήρες δειγμάτων διαφόρων σχημάτων και διαστάσεων (SEM Holders), αναλώσιμα/παρελκόμενα για επιτραπέζια ηλεκτρονικά μικροσκόπια SEM, αναλώσιμα/παρελκόμενα για ηλεκτρονικά μικροσκόπια διέλευσης TEM (Transmission electron microscopy), αναλώσιμα/παρελκόμενα για FIB (Focused Ion Beam) για AFM/SPM (Atomic Force Microscope/Scanning Probe Microscope), για συστήματα cryo, για μικροσκοπία φωτός καθώς και για οπτική βαθμονόμηση. Επιπλέον διατίθενται Νήματα/Κάθοδοι/Πηγές για ΤΕΜ, αναλώσιμα/παρελκόμενα για συστήματα επίστρωσης (sample coating), πηγές θερμικής εξάτμισης, αγώγιμες ταινίες, αυτοκόλλητα  άνθρακα και αγώγιμες πάστες για χρήση κατά την τοποθέτηση και παρατήρηση δειγμάτων σε ηλεκτρονικά μικροσκόπια, υποστρώματα, κουτάκια αποθήκευσης δειγμάτων, παρελκόμενα αποθήκευσης κενού / αδρανούς αερίου, λαβίδες, αισθητήρες, εργαλεία χάραξης, πιπέτες, εργαστηριακά εργαλεία κοπής-ξυράφια, εργαστηριακά γάντια, βάσεις προετοιμασίας δειγμάτων για SEM και επιφάνειες προετοιμασίας, μικρά εργαλεία χειρός και αναλώσιμα/εξαρτήματα κενού.