Παρατήρηση δειγμάτων αλουμινίου για εύρεση και μέτρηση ενδομεταλλικών ενώσεων

Η εταιρεία μας ολοκλήρωσε επιτυχώς την προμήθεια και εγκατάσταση μεταλλογραφικού εργαστηρίου για λογαριασμό συνεργάτη μας. 

Ο εξοπλισμός τοποθετήθηκε σε πλήρως εξοπλισμένο εργαστήριο έρευνας και ανάπτυξης, για τη μεταλλογραφική προετοιμασία δειγμάτων αλουμινίου με σκοπό την παρατήρηση και ανάλυση της μικροδομής, καθώς και την εύρεση και μέτρηση των ενδομεταλλικών ενώσεων.

Ειδικότερα το έργο περιλάμβανε την επιλογή του κατάλληλου εξοπλισμού με βάσει τις ανάγκες και τα δείγματα του συνεργάτη μας, την προμήθεια και εγκατάσταση του εξοπλισμού και τέλος τη συστηματική εκπαίδευση των χρηστών. 

Η εκπαίδευση των χρηστών έλαβε χώρα σε πραγματικά δείγματα του συνεργάτη μας και όχι σε dummy samples, δίνοντας μας τη δυνατότητα να βελτιστοποιήσουμε τη μέθοδο προετοιμασίας των δειγμάτων προσφέροντας άμεσα και πραγματικά αποτελέσματα για μελέτη. 

Εξοπλισμός που εγκαταστάθηκε

1. Μηχάνημα εγκιβωτισμού UV mounting, μοντέλο QMOUNT οίκου QATM Γερμανίας για τον εγκιβωτισμό των δειγμάτων σε σύντομο χρονικό διάστημα.
2. Λειαντικό/Στιλβωτικό μηχάνημα QPOL250A1 ECO του οίκου QATM Γερμανίας με αυτόματο δοσομετρικό σύστημα 4 αντλιών για την αυτόματη άντληση του στιλβωτικού της επιλογής μας
3. Μηχανή Ηλεκτρολυτικής Στίβωσης και Προσβολής, μοντέλο QETCH 1000 του οίκου QATM Γερμανίας για την προσβολή της επιφάνειας των δειγμάτων με σκοπό την αποκάλυψη της μικροδομής τους.
4. Ανάστροφο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο μοντέλο ECLIPSE MA 200 του οίκου NIKON METROLOGY με τεχνικές πόλωσης, ανάλυσης και DIC ( Differential interference contrast microscopy) για την παρατήρηση των δειγμάτων.
5. Κάμερα μικροσκοπίου με μεγάλο frame/sec, μοντέλο DSFi3  του οίκου NIKON METROLOGY για τη λήψη εικόνων υψηλής ανάλυσης από το μικροσκόπιο.
6. Λογισμικό ανάλυσης μικροδομής και μετρήσεων NIS ELEMENTS D του οίκου NIKON METROLOGY με ειδικά modules για τη λήψη αυτοματοποιημένων μετρήσεων, μέτρηση μέσου μεγέθους κόκκων με την κλασσική μέθοδο αλλά και με τεχνικές τεχνητής νοημοσύνης (Artificial Intelligence).

Στάδια προετοιμασίας/εξοπλισμός

1. Η κοπή των δειγμάτων με χειροκίνητο εξοπλισμό, διότι τα δείγματα είναι πολύ ευαίσθητα και δεν είναι δυνατό να κοπούν σε κοπτικό μηχάνημα μεταβλητών στροφών ή μικροτόμο.
2. Εγκιβωτισμός δειγμάτων σε μηχάνημα UV mounting, μοντέλο QMOUNT οίκου QATM Γερμανίας με χρήση ειδικών καλουπιών εγκιβωτισμού QATM ειδικά για τεχνολογία εγκιβωτισμού με φωτοπολυμερισμό.
3. Ο χρόνος εγκιβωτισμού των 12 δειγμάτων ταυτόχρονα δεν υπερβαίνει τα 2 λεπτά.
4. Ιδιαίτερη προσοχή δίνεται κατά την στερέωση των δειγμάτων και πριν την έγχυση της ρητίνης UV (ενός συστατικού), όπου αναλόγως την πολυπλοκότητα του σχήματος θα πρέπει κάθε φορά να επιλέγεται η κατάλληλη λύση συγκράτησης με πλαστικούς ή μεταλλικούς συγκρατητήρες (clips) μίας, δύο, τριών ή τεσσάρων θέσεων.
5. Κατά την έγχυση της ρητίνης πρέπει να δίνεται ιδιαίτερη προσοχή, διότι αυτή θα πρέπει να γίνεται με τρόπο ώστε σε ακανόνιστα σχήματα να μπορεί να διεισδύσει όσο το δυνατόν περισσότερο. Υπάρχουν διάφορες τεχνικές χρήσης για τέτοιες εφαρμογές.
6. Η λείανση/στίλβωση των δειγμάτων έγινε με μηχανικό τρόπο στο μηχάνημα QPOL250A1 ECO του οίκου QATM Γερμανίας, με αυτόματο δοσομετρικό σύστημα 4 αντλιών και χρήση  προτεινόμενης μεθόδου λείανσης/στίλβωσης για αλουμίνιο.
7. Ηλεκτρολυτική προσβολή έγινε με διάλυμα Barkers στη συσκευή ηλεκτρολυτικής στίλβωσης/προσβολής μοντέλο QETCH 1000. Αναλόγως το κράμα του αλουμινίου αναπροσαρμόζουμε το χρόνο και την τάση του ρεύματος προκειμένου να λάβουμε το βέλτιστο αποτέλεσμα δίχως επιφάνειες με καψίματα (burn outs).
8. Η παρατήρηση δειγμάτων έγινε στο κορυφαίο ανάστροφο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο μοντέλο ECLIPSE MA 200 του οίκου NIKON METROLOGY με τεχνικές πόλωσης, ανάλυσης και DIC ( Differential interference contrast microscopy).
9. Η λήψη εικόνων υψηλής ανάλυσης έγινε με υψηλής ποιότητας και ταχύτητας camera με μεγάλο frame/sec, μοντέλο DSFi3  του οίκου NIKON METROLOGY.
10. Η μέτρηση των ενδομεταλλικών ενώσεων και του μέσου μεγέθους κόκκων των δειγμάτων αλουμινίου, έγινε με τη χρήση του λογισμικού NIS ELEMENTS D του οίκου NIKON METROLOGY με ειδικά modules για μετρήσεις μικροδομής με τεχνικές τεχνητής νοημοσύνης (Artificial Intelligence).

Κατά την παρατήρηση των δειγμάτων λήφθησαν οι παρακάτω εικόνες μικροδομών υψηλής ανάλυσης brightfield με τη χρήση πολωτή.

Επικοινωνήστε μαζί μας, μοιραστείτε τις λεπτομέρειες της εφαρμογής σας και θα χαρούμε πολύ να σας προτείνουμε τον εξειδικευμένο εξοπλισμό που απαιτείται για να επιτύχετε το αποτέλεσμα μικροδομής που επιθυμείτε.