SMZ25 και SMZ18
H σειρά στερεοσκοπίων SMZ25 και SMZ18 του οίκου NIKON METROLOGY προσφέρουν εξαιρετική ποιότητα εικόνας τόσο για παρατήρηση από τον εκάστοτε χρήστη όσο και για λήψη ψηφιακής φωτογραφικής εικόνας σε όλο το εύρος μεγέθυνσης. Τα SMZ25 και SMZ18 της Nikon φέρνουν την επανάσταση στη στερεοσκοπική μικροσκοπία με υψηλής ανάλυσης εικόνας και μοναδική παροχή αναλογιών μεγέθυνσης 25:1 και 18:1 αντίστοιχα.Οι εφαρμογές κυμαίνονται από την τακτική επιθεώρηση κρίσιμων εξαρτημάτων έως την έρευνα και ανάπτυξη και ανάλυση αστοχιών καινοτόμων δομών και εξαρτημάτων.
Βασικά χαρακτηριστικά
SMZ1270i και SMZ1270
Η σειρά στερεοσκοπίων SMZ1270 της NIKON METROLOGY υπερβαίνει κατά πολύ τις τυπικές απαιτήσεις απεικόνισης κατά τη μελέτη χαρακτηριστικών σε μικροσκοπικά αντικείμενα. Είναι ιδιαίτερα κατάλληλο για έρευνα γύρω από την επιστήμη των υλικών, για βιομηχανικές κατασκευαστικές εφαρμογές και για διαδικασίες ελέγχου παραγωγής.
Βασικά χαρακτηριστικά
SMZ800N
Το μοντέλο στερεοσκοπίου SMZ800N της NIKON METROLOGY παρέχει ευκολία στη χρήση και απεικόνιση υψηλής ευκρίνειας χαρακτηριστικά απαραίτητα για εφαρμογές όπως η επιθεώρηση ηλεκτρονικών εξαρτημάτων και η ανάλυση αστοχιών. Με δυνατότητα μεγεθύνσεων σε αναλογία ζουμ 8:1 (1x-8x), το μοντέλο είναι ιδανικό για μελέτες ανάλυσης αστοχιών και μηχανισμούς αστοχίας επαληθεύοντας αποτελέσματα. Η εξέταση επιφάνειας εξαρτημάτων, η ανίχνευση ρωγμών, οι μελέτες διάβρωσης, η παρατήρηση σύνθετων υλικών, υφασμάτων, μερών που παράγονται από εργαλειομηχανές για κρίσιμα εξαρτήματα αεροδιαστημικής/ναυπηγικής ή οικοδομικών και κατασκευαστικών υλικών, είναι όλες εφαρμογές που εκτελούνται ιδιαίτερα εύκολα με το συγκεκριμένο στερεοσκόπιο. Εν κατακλείδι πρόκειται για ένα στερεοσκόπιο απολύτως κατάλληλο για εφαρμογές στην επιστήμη των υλικών, στην έρευνα και τη βιομηχανία με δυνατότητα να φέρει εις πέρας εφαρμογές παρατήρησης όχι μόνο συνηθισμένες αλλά και κρίσιμες ή ιδιαίτερες.
Βασικά χαρακτηριστικά
SMZ745T και SMZ745
Τα μοντέλα στερεοσκοπίου της σειράς SMZ745 (SMZ745T και SMZ745) της NIKON METROLOGY με εύρος μεγέθυνσης υψηλής εστίασης 7,5:1 και με εξαιρετικά μεγάλη απόσταση εργασίας 115 mm, είναι απολύτως κατάλληλα για εφαρμογές έρευνας υλικών και για εφαρμογές ελέγχου παραγωγής. Είναι ιδανικά για μελέτες ανάλυσης αστοχιών, για εξέταση επιφάνειας εξαρτημάτων, για ανίχνευση ρωγμών, για μελέτες διάβρωσης, για έλεγχο σύνθετων υλικών, υφασμάτων και μερών που παράγονται από εργαλειομηχανές για κρίσιμα εξαρτήματα αεροδιαστημικής ή οικοδομικά και κατασκευαστικά υλικά .