Οπτικά Μικροσκόπια

Ανάστροφα Μεταλλογραφικά Μικροσκόπια ECLIPSE MA200 & ECLIPSE MA100N

Τα μοντέλα ανάστροφων μεταλλογραφικών μικροσκοπίων ECLIPSE MA200 & ECLIPSE MA100N του οίκου NIKON METROLOGY Ιαπωνίας, είναι ευέλικτα αρθρωτά συστήματα παρατήρησης δειγμάτων κατάλληλα για επισκοπικές τεχνικές οπτικής αντίθεσης σε συνδυασμό με παρελκόμενα ψηφιακής απεικόνισης. Είναι ιδανικά μοντέλα για μεταλλουργική/μεταλλογραφική παρατήρηση δειγμάτων και βρίσκουν εφαρμογή σε πάρα πολλά πεδία όπως παρατήρηση μεταλλικών δειγμάτων  αλουμινίου, χαλκού, χάλυβα, Zn, Ti και άλλων κραμάτων κλπ. Τα δείγματα ως προς παρατήρηση συνήθως θα πρέπει να έχουν υποστεί πλήρη μεταλλογραφική προετοιμασία η οποία περιλαμβάνει τέλεια λείανση, στίλβωση και χημική προσβολή.

  • Ανάστροφα μεταλλογραφικά μικροσκόπια κατάλληλα για παρατήρηση μικροδομής μετάλλων και άλλων υλικών
  • Κατάλληλα για επισκοπικές τεχνικές οπτικής αντίθεσης σε συνδυασμό με παρελκόμενα ψηφιακής απεικόνισης
  • Ιδανικά μοντέλα για εφαρμογές μεταλλογραφικής παρατήρησης δειγμάτων αλουμινίου, χαλκού, χαλυβα, Zn, Ti και άλλων μεταλλικών κραμάτων
  • Πλήρη συμβατότητα με cameras οίκου NIKON METROLOGY και λογισμικό ανάλυσης εικόνας NIS ELEMENTS

Μικροσκόπια Upright ECLIPSE LV150NA και LV150N

Τα μοντέλα ECLIPSE LV150NA και LV150N του οίκου NIKON METROLOGY αποτελούν ευέλικτα, αρθρωτά, upright μικροσκόπια τα οποία είναι κατάλληλα για διάφορες επισκοπικές τεχνικές οπτικής αντίθεσης όπως φωτεινό πεδίο (BF), σκοτεινό πεδίο (DF), DIC (Differential Interference Contrast), Πόλωση (POL), Φθορισμός Interferometry.  Συνοδευόμενα από τα κατάλληλα παρελκόμενα ψηφιακής ανάλυσης και από μεγάλης διαδρομής τράπεζα XY είναι απολύτως κατάλληλα για παρατήρηση ημιαγωγών καθώς και για ανάλυση μικροδομής μεταλλογραφικών δειγμάτων δηλαδή δειγμάτων που έχουν υποστεί ειδική μεταλλογραφική προετοιμασία η οποία περιλαμβάνει λείανση, στίλβωση και κατάλληλη χημική ή ηλεκτρολυτική προσβολή.

Βασικά χαρακτηριστικά

  • Upright Μικροσκόπια κατάλληλα για παρατήρηση μικροδομής μετάλλων, ημιαγωγών, ορυκτών και άλλων υλικών
  • Κατάλληλα για διάφορες επισκοπικές τεχνικές οπτικής αντίθεσης όπως φωτεινό πεδίο (BF), σκοτεινό πεδίο (DF), DIC (Differential Interference Contrast), Πόλωση (POL), Φθορισμός Interferometry.
  • Ιδανικά μοντέλα για εφαρμογές μεταλλογραφικής παρατήρησης δειγμάτων
  • Πλήρη συμβατότητα με cameras οίκου NIKON METROLOGY και λογισμικό ανάλυσης εικόνα NIS ELEMENTS

Image

Αγίων Αναργύρων 10
Μαρούσι Αττικής, 151 24
Ελλάδα

+30 2107243529
[email protected]

ΕΡΩΤΗΣΕΙΣ; ΣΤΕΙΛΤΕ ΜΗΝΥΜΑ